Neuigkeiten
Beitrag beim 33. "IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems" angenommen
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Vortrag im Forschungsseminar
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Antrittsvortrag zur Bachelorarbeit von Melanie Jung
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Beitrag beim 32. GI / GMM / ITG - Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2020) akzeptiert
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Beitrag beim IEEE VLSI Test Symposium akzeptiert
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Abschlussvortrag von Johann Emanuel Rheinert am 19.12.2019
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Neuer Mitarbeiter im Fachgebiet Datentechnik
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Abschlussvortrag von Yuan Zhang am 31.10.2019
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Vorbesprechung Lehrveranstaltungen/Projektgruppen Wintersemester 2019/2020
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Vorträge im Forschungsseminar
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Zwischenvortrag im Forschungsseminar am 22.08.2019
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Antrittsvortrag Bachelorarbeit
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Präsentation im Forschungsseminar
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Projektgruppen Vorstellung am 8.7.2019
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Beitrag zur International Test Conference akzeptiert
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