Diadem

Eingebettete Diagnose- und Debugmethoden für VLSI Systeme in Nanometer Technologie

Innovative Diagnosetechniken werden in Kooperation mit der Universität Stuttgart im Rahmen des DFG-Projekts DIADEM entwickelt

Homepage: https://diadem.date.upb.de

Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme / Test and Reliability of Nano-Electronic Systems

Qualitätssicherung und Zuverlässigkeit bei nanoelektronischen Schaltungen und Systemen stehen im Mittelpunkt des DFG-Projekts RealTest (Test and Reliability of Nano-Electronic Systems), das von den Universitäten Freiburg (Prof. Dr. Bernd Becker, Dr. Ilia Polian), Paderborn (Prof. Dr. Sybille Hellebrand) und Stuttgart (Prof. Dr. Hans-Joachim Wunderlich) sowie dem Fraunhofer IIS-EAS Dresden (Prof. Dr. Bernd Straube, Dr. Wolfgang Vermeiren) gemeinsam durchgeführt und von den Firmen Infineon Technologies Neubiberg und Mentor Graphics Hamburg unterstützt wird.

Homepage: https://realtest.date.upb.de