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Fachgebiet Datentechnik (DATE)
Prof. Dr. Sybille Hellebrand
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Willkommen im Fachgebiet Datentechnik

Wir erforschen Methoden und Werkzeuge zur Unterstützung von Test und Diagnose hochintegrierter Systeme. Bei modernen "Nanochips" führen extreme Parameterschwankungen und eine erhöhte Anfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen dazu, dass nur ein immer kleinerer Teil der gefertigten Chips korrekt funktioniert. Dies erfordert innovative integrierte Test- und Diagnoseverfahren, die defekte Chips aussortieren und möglichst Produktionsprobleme identifizieren können.

Abschluss- und Projektarbeiten

Wir bieten laufend Abschluss- und Projektarbeiten zu Themen rund ums Testen von hochintegrierten Schaltungen an. Kommen Sie doch einfach vorbei oder schicken Sie uns eine E-Mail mit Ihrer Bewerbung.

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Prof. Dr. Sybille Hellebrand

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Offene Abschlussarbeiten

Es werden laufend Abschlussarbeiten für Studierende vergeben. Diese Arbeiten basieren auf den Inhalten der Vorlesungen und aktuellen Forschungsthemen. Interessierte Studierende mögen sich bitte bei Frau Prof. Dr. Sybille Hellebrand melden.

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