Willkommen im Fachgebiet Datentechnik
Wir erforschen Methoden und Werkzeuge zur Unterstützung von Test und Diagnose hochintegrierter Systeme. Bei modernen "Nanochips" führen extreme Parameterschwankungen und eine erhöhte Anfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen dazu, dass nur ein immer kleinerer Teil der gefertigten Chips korrekt funktioniert. Dies erfordert innovative integrierte Test- und Diagnoseverfahren, die defekte Chips aussortieren und möglichst Produktionsprobleme identifizieren können.
Abschluss- und Projektarbeiten
Wir bieten laufend Abschluss- und Projektarbeiten zu Themen rund ums Testen von hochintegrierten Schaltungen an. Kommen Sie doch einfach vorbei oder schicken Sie uns eine E-Mail mit Ihrer Bewerbung.
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Leitung
Prof. Dr. Sybille Hellebrand
Datentechnik (DATE)

Sekretariat
Anita Hüser
Datentechnik (DATE)

Montag - Donnerstag
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