Achtung:

Sie haben Javascript deaktiviert!
Sie haben versucht eine Funktion zu nutzen, die nur mit Javascript möglich ist. Um sämtliche Funktionalitäten unserer Internetseite zu nutzen, aktivieren Sie bitte Javascript in Ihrem Browser.

Fachgebiet Datentechnik (DATE)
Prof. Dr. Sybille Hellebrand
Bildinformationen anzeigen

Willkommen im Fachgebiet Datentechnik

Wir erforschen Methoden und Werkzeuge zur Unterstützung von Test und Diagnose hochintegrierter Systeme. Bei modernen "Nanochips" führen extreme Parameterschwankungen und eine erhöhte Anfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen dazu, dass nur ein immer kleinerer Teil der gefertigten Chips korrekt funktioniert. Dies erfordert innovative integrierte Test- und Diagnoseverfahren, die defekte Chips aussortieren und möglichst Produktionsprobleme identifizieren können.

Abschluss- und Projektarbeiten

Wir bieten laufend Abschluss- und Projektarbeiten zu Themen rund ums Testen von hochintegrierten Schaltungen an. Kommen Sie doch einfach vorbei oder schicken Sie uns eine E-Mail mit Ihrer Bewerbung.

Stellenangebote 

Neuigkeiten

Weitere Neuigkeiten

Leitung

Prof. Dr. Sybille Hellebrand

Datentechnik (DATE)

Sybille Hellebrand
Telefon:
+49 5251 60-3002
Fax:
+49 5251 60-4227
Büro:
P1.6.08.1
Web:

Sprechzeiten:
nach Vereinbarung
Sekretariat

Anita Hüser

Datentechnik (DATE)

Anita Hüser
Telefon:
+49 5251 60-4259
Fax:
+49 5251 60-4221
Büro:
P1.6.08.2
Web:

Sprechzeiten:

Montag - Freitag

14.00-16.00 Uhr

Offene Abschlussarbeiten

Es werden laufend Abschlussarbeiten für Studierende vergeben. Diese Arbeiten basieren auf den Inhalten der Vorlesungen und aktuellen Forschungsthemen. Interessierte Studierende mögen sich bitte bei Frau Prof. Dr. Sybille Hellebrand melden.

Die Universität der Informationsgesellschaft