Wir freuen uns, dass unser Paper mit dem Titel "Minimizing PVT-Variability by Exploiting the Zero Temperature Coefficient (ZTC) for Robust Delay Fault Testing" für die "IEEE International Test Conference" (ITC'24) in San Diego, USA angnommen wurde. Diese Arbeit ist aus der Kooperation mit der Universität Stuttgart, Universität Paderborn und der Technischen Universität München (TUM) entstanden. Die beteiligten Autoren sind Hanieh Jafarzadeh, Florian Klemme, Jan Dennis Reimer, Hussam Amrouch, Sybille Hellebrand und Hans-Joachim Wunderlich.
Kurzfassung: Prozess-, Spannungs- und Temperaturschwankungen (PVT) erschweren die Testgenerierung für kleine Verzögerungsfehler erheblich, da Testmuster, die für eine Schaltungsinstanz wirksam sind, möglicherweise für eine andere nicht mehr gültig sind. Temperaturbedingte Zeitvariationen in FinFET- und Gate-All-Around (GAA)-Technologien sind aufgrund von Temperaturschwankungen und Selbsterhitzung besonders schwerwiegend. Abhängig von der Versorgungsspannung zeigen sie die Temperature Effect Inversion (TEI), die den Anstieg der Schaltungsverzögerung mit steigender Temperatur beschreibt. Der Null-Temperatur-Koeffizient (engl. Zero Temperature Coefficient, ZTC) legt eine Versorgungsspannung fest, bei der TEI gegen 0 geht und die Auswirkungen der temperaturbedingten Schwankungen minimiert werden. Die Simulationsergebnisse zeigen, dass die Testerzeugung bei der ZTC-Spannung zu einer höheren Fehlerabdeckung von SDFs führt, während deutlich weniger Testmuster benötigt werden.