Der Beitrag "Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects", welcher in Kooperation mit dem Kyushu Institute of Technology und der Universität Stuttgart entstanden ist, wurde von den Autoren Stefan Holst, Matthias Kampmann, Alexander Sprenger, Jan Dennis Reimer, Sybille Hellebrand, Hans-Joachim Wunderlich und Xiaoqing Wen bei der diesjährigen "IEEE International Test Conference" eingereicht und wurde als Konferenzbeitrag angenommen.
Die Konferenz findet vom 03.11 bis zum 05.11.2020 statt.