Der Beitrag "Variation-Aware Test for Logic Interconnects using Neural Networks – A Case Study" von Alexander Sprenger, Somayeh Sadeghi-Kohan, Jan Dennis Reimer und Sybille Hellebrand wurde beim 33. "IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS'20)" angenommen.
Die Konferenz findet vom 19. - 21. Oktober 2020 statt.