Am Donnerstag, den 11.05.2023 um 14:00 Uhr hält Dr.-Ing. Matthias Kampmann von Siemens EDA den Vortrag zu seinen aktuellen Forschungen im Bereich von IJTAG und "Streaming Scan Networks" (SSN) mit dem Titel:
"Industrielle Trends in DFT: IJTAG & SSN".
Der Vortrag findet im Seminarraum P1.6.17.1 statt und wird auf deutsch gehalten. Alle Interessierten sind herzlich eingeladen am Vortrag teilzunehmen. Um den Inhalt des Vortrags besser verstehen zu können, ist es empfehlenswert, ein grundlegendes Verständnis von IJTAG-Begriffen wie TAP, Scan-Operationen (Capture/Shift/Update), SIB und Rekonfiguration zu haben.
Kurzfassung
In diesem Vortrag werden einige der jüngsten DFT-Entwicklungen bei Siemens EDA vorgestellt.
Der erste Teil befasst sich mit FastIJTAG, einer Lösung zur Erhöhung der Shift-Geschwindigkeit von IJTAG-Operationen. Sie besteht sowohl aus Hardware- als auch aus Software-Lösungen. Das Herzstück ist die selektive TCK-Stretching-Funktion, die im Mittelpunkt dieses Teils steht. Es handelt sich dabei um eine reine Softwarelösung, die entwickelt wurde, um Setup- und Hold-Probleme mit IJTAG-Steuersignalen zu überwinden, einer der Hauptgründe, warum die TCK-Gescheindigkeit in großen IF`JTAG-Netzwerken begrenzt ist.
Im zweiten Teil des Vortrags wird das Streaming Scan Network (SSN) vorgestellt. SSN liefert Testdaten an die Cores in einem großen Design über einen parallelen Bus, was mehrere Vorteile hat: Hohe Bandbreiten können leicht erreicht werden, was die Testzeit verkürzt, und die Cores sind entkoppelt, was den Designaufwand und das Testdatenvolumen reduziert. Mit Techniken wie On-Chip-Vergleichstests kann ein Chip sehr effektiv getestet werden. Dieser Teil behandelt die Grundlagen von SSN: Eine Einführung in die Technologie sowie einige fortgeschrittene Knoten, die auf dem Bus platziert werden können, um den zeitlichen Abschluss des Designs zu erleichtern.