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Fachgebiet Datentechnik (DATE)
Prof. Dr. Sybille Hellebrand
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Algorithms and Tools for Test and Diagnosis of Systems on Chip

Weitere Informationen finden Sie im zugehörigen PANDA Kurs.

Beschreibung

Die Lehrveranstaltung befasst sich mit aktuellen Ansätzen zum Test und zur Diagnose von integrierten Systemen. Der Schwerpunkt liegt dabei auf Algorithmen und Werkzeugen zur rechnergestützten Vorbereitung und Durchführung von Test und Diagnose.

Beispielhafte Inhalte

  • Spezielle Verfahren für den eingebauten Selbsttest und für den eingebetteten Test
  • Eingebaute Diagnose
  • Test robuster und selbstadaptiver Systeme
  • Adaptives Testen

Prüfung

Seminar

Voraussetzungen

  • VLSI Testing
  • (Introduction to algorithms)

Modulzugehörigkeit 

Computer Engineering:

  • Wahlpflichtmodul: Algorithms and Tools Test and Diagnosis for Systems on Chip
  • Vertiefungsgebiete: Embedded Systems, Nano/Microelectronics

Elektrotechnik (Master): Mikroelektronik

Electrical Systems Engineering (Master): Signal and Information Processing

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Verantwortlich

Prof. Dr. Sybille Hellebrand

Datentechnik (DATE)

Sybille Hellebrand
Telefon:
+49 5251 60-3002
Fax:
+49 5251 60-4227
Büro:
P1.6.08.1
Web:

Sprechzeiten:
nach Vereinbarung
Übungsleiter

Dr. Somayeh Sadeghi-Kohan

Datentechnik (DATE)

Somayeh Sadeghi-Kohan
Telefon:
+49 5251 60-3921
Fax:
+49 5251 60-4227
Büro:
P1.6.08.5
Web:

Vorlesungsunterlagen

Ausführlichere Informationen für Studierende gibt es direkt in dem panda-Kurs.

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