Al­gorithms and Tools for Test and Dia­gnos­is of Sys­tems on a Chip

Die Lehrveranstaltung "Algorithms and Tools for Test and Diagnosis of Systems on a Chip" befasst sich mit aktuellen Ansätzen zum Test und zur Diagnose von integrierten Systemen. Der Schwerpunkt liegt dabei auf Algorithmen und Werkzeugen zur rechnergestützten Vorbereitung und Durchführung von Test und Diagnose.

The course "Algorithms and Tools for Test and Diagnosis of Systems on Chip" deals with advanced topics in test and diagnosis of integrated systems. The focus is on algorithms and tools for computer-aided preparation and application of test and diagnosis procedures.

Unter anderem werden die folgenden Themen behandelt:

• Spezielle Verfahren für den eingebauten Selbsttest und für den eingebetteten Test
• Eingebaute Diagnose
• Test robuster und selbstadaptiver Systeme
• Adaptives Testen

Topics include but are not restricted to:

• Advanced techniques for built-in self-test and embedded test
• Built-in diagnosis
• Test of robust and self-adaptive systems
• Adaptive Testing

Fachkompetenz / Domain competence:

Die Studierenden sind nach dem Besuch der Lehrveranstaltung in der Lage,

• ausgewählte aktuelle Ansätze aus dem Bereich Test und Diagnose zu beschreiben,
• die grundlegenden Modelle und Algorithmen dafür zu erklären und anzuwenden, sowie
• die speziellen Herausforderungen bei Fertigungstechnologien im Nanometerbereich zu erklären und Teststrategien im Hinblick darauf zu bewerten.

After attending the course, the students will be able

• to describe recent approaches in test and diagnosis,
• to explain and apply the underlying models and algorithms,
• to explain the specific challenges of nanoscale integration and evaluate test strategies accordingly.

Fachübergreifende Kompetenzen / Key qualifications:

Die Studierenden können

• vorhandenes Grundlagenwissen zur selbständigen Erarbeitung neuer Inhalte einsetzen,
• die erarbeiteten neuen Inhalte in einem Fachvortrag präsentieren und
• die erarbeiteten neuen Inhalte in einer schriftlichen Ausarbeitung nach den Richtlinien wissenschaftlicher Fachartikel beschreiben.

The students are able

• to apply their basic knowledge for studying and understanding new approaches from the state of the art literature,
• to present the new contents in a conference style presentation, and
• to describe the new contents in a scientific manuscript.

• Vorlesung mit Beamer und Tafel
• Selbstständige Ausarbeitung neuer Inhalte anhand aktueller Literatur
• Präsentation der neuen Inhalte im Rahmen eines Fachvortrags und
• Schriftliche Ausarbeitung

• Lecture based on slide presentation, extensions on blackboard
• Self-study on recent approaches based on recent conference and journal publications
• Oral presentation
• Manuscript

Grundlagen der Technischen Informatik

Introduction to Computer Engineering

Kenntnisse aus der LV „Test hochintegrierter Schaltungen“ sind vorteilhaft aber nicht notwendig.

The course “VLSI Testing” is recommend as a prerequisite but not necessary.

1 Referat (Ausarbeitung und Vortrag)

1 seminar paper (Manuscript and oral presentation)

Englisch / English

• Vorlesungsfolien
• Aktuelle Hinweise auf ergänzende Literatur und Lehrmaterialien auf der Webseite

• Vorlesungsfolien
• Aktuelle Hinweise auf ergänzende Literatur und Lehrmaterialien auf der Webseite

• Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal, „Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits,“ Kluwer Academic Publishers,2000
• Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen, „VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability,“ Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon, ISBN: 0123705975
• Artikel aus Fachzeitschriften und Konferenzbänden / Articles from Journals and Conference Proceedings (e.g. IEEE Transactions on Computers, IEEE Transactions on CAD of Integrated Circuits and Systems, IEEE International Test Conference, etc.)