VL­SI Tes­ting

Beschreibung

Die Vorlesung behandelt systematische Verfahren zur Erkennung von Hardware-Defekten in mikroelektronischen Schaltungen. Es werden sowohl Algorithmen zur Erzeugung und Auswertung von Testdaten als auch Hardwarestrukturen zur Verbesserung der Testbarkeit und für den eingebauten Selbsttest vorgestellt.

 Inhalt

• Fehlermodelle
• Testbarkeitsmaße und Maßnahmen zur Verbesserung der Testbarkeit
• Logik- und Fehlersimulation
• Algorithmen zur Testmustererzeugung
• Selbsttest, insbesondere Testdatenkompression und Testantwortkompaktierung
• Speichertest
• ...

Literatur

• Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal: „Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits“, Boston, Dordrecht, London: Kluwer Academic Publishers, 2000
• Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen: „VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability“, Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon, ISBN: 0123705975

Prüfung 

mündliche Prüfung, Termin nach Absprache

Voraussetzungen

• Digitaltechnik

Modulzugehörigkeit

Computer Engineering (Master):

• Wahlpflichtmodul: Test hochintegrierter Schaltungen
• Vertiefungsgebiete: Embedded Systems, Nano/Microelectronics

Elektrotechnik (Master):

• Mikroelektronik

Informatik (Master):

• Wahlpflichtmodul: VLSI Testing

Electrical Systems Engineering (Master): Electronics and Devices

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