Der Beitrag "Design for Small Delay Test - A Simulation Study" von Matthias Kampmann und Sybille Hellebrand wurde zur Aufnahme in die Zeitschrift "Microelectronics Reliability" von Elsevier akzeptiert. In ihrem Beitrag untersuchen die Autoren weiter die zuvor mit einem Best Paper Award ausgezeichnete Veröffentlichung "Design-for-FAST: Supporting X-tolerant Compaction during Faster-than-at-Speed Test". Eine ausführliche Simulationsstudie mit neu synthetisierten Schaltungen zeigt, wie sich die zuvor entwickelte "Design-for-FAST" Methodik in einen industriellen Syntheseablauf einbringen lässt und welche Vor- bzw. Nachteile dieses Verfahren gegenüber einem herkömmlichen Syntheseprozess hat.
