Interferometrische Strukturbestimmung an optischen Gittern

 

Leitung / KoordinationUniv.-Prof. Dr.-Ing. Reinhold Noé
Weiterer Ansprechpartner:Dipl.-Ing. David Sandel
Kooperierende Wissenschaftler:Univ.-Prof. Dr. Wolfgang Sohler (Angewandte Physik, Universität-GH Paderborn, D-33095 Paderborn)
Kooperation:Industrie
Förderinstitutionen:Rektorat der Universität-GH Paderborn
Laufzeit: 1993–1998

Optische Gitter reflektieren Licht einer bestimmten Wellenlänge. Ändert man die Gitterkonstante als Funktion des Ortes, so werden Reflexionsort und Gruppenlaufzeit des Signals wellenlängenabhängig; das Gitter ist dispersiv. Bei geeigneter Auslegung läßt sich die entgegengesetzt wirkende Dispersion einer optischen Übertragungsstrecke kompensieren. Dadurch soll es möglich werden, einen Teil der Regeneratoren auf optischen Datenübertragungsstrecken durch einfacher aufgebaute und bitratentransparente optische Verstärker zu ersetzen. Solche Gitter können durch seitliche Belichtung mit einem Beugungsmuster aus ultravioletter Strahlung direkt in konventionelle Lichtwellenleiter eingeschrieben werden. Eine Voraussetzung für kommerziellen Einsatz ist höchste Präzision des Gitters. Wir messen interferometrisch die komplexe Übertragungsfunktion des Gitters, bestimmen daraus die komplexe Impulsantwort und über einen eindimensionalen inversen Streualgorithmus schließlich die longitudinale Gitterstruktur, d.h. die ortsabhängige Gitterkonstante und Gitterstärke. Kenntnis dieser Funktionsverläufe soll die Herstellung präziserer Gitter erleichtern.