Studierender: Viktor Tran
Betreuer: Jan Dennis Reimer
Das Ziel dieser Arbeit ist, verschiedene SAT-basierte Verfahren zur automatisierten Testmustererzeugung (ATPG) miteinander zu kombinieren, um ein pareto-optimales Werkzeug zu erschaffen. Dabei sind kleine Verzögerungsfehler der Fokus dieser Arbeit. Mögliche ATPG-Optimierungsziele sind
- Minimierung von unbekannten Logikwerten (X-Werten) bei der Simulation
- Minimierung von relevanten (care) Bits im Testmuster
- Maximierung der sensibilisierten Pfadlänge für einen Verzögerungsfehler
- ...
Mit Hilfe von Gewichtungen sollen diese Optimierungsziele gegeneinander abgewägt und so die pareto-optimalen Lösungen gefunden werden.