New publication Editor's Pick: Article Cover Estimation of losses caused by sidewall roughness in thin-film lithium niobate rib and strip waveguides 17.07.2024 Beitrag teilen auf: Teilen auf Instagram Teilen auf Facebook Teilen auf Xing Teilen auf LinkedIn Teilen über E-Mail Link kopieren Teilen via Web API Authors: M. Hammer, S. Babel, H. Farheen, L. Padberg, J. C. Scheytt, C. Silberhorn, J. Förstner https://ris.uni-paderborn.de/record/54668 https://doi.org/10.1364/oe.521766 Download (156 KB)