Prof. Dr. rer. nat. Sybille Hellebrand

»Bei uns geht es um die Zuverlässigkeit mikroelektronischer Systeme. Wir entwickeln Test- und Diagnoseverfahren, die fehlerhafte Chips schnell und zielsicher entdecken und analysieren können. Besonders schwierig wird das für „fehlertolerante“ Systeme, die auch mit Fehlern korrekt arbeiten sollen...«